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臺式電鏡SEM(ScanningElectronMicroscope)是一種能夠觀察材料表面微觀形貌和元素成分的電子顯微鏡。它通過掃描樣品表面并利用反射出的電子來獲取樣品表面的形貌和成分信息，能夠獲得高分辨率的表面形貌圖像和元素成分分布圖像。臺式電鏡SEM主要有以下作用：1.觀察樣品表面形貌：能夠獲得高分辨率的樣品表面形貌圖像，從而使研究者可以觀察到微觀級別的表面結構和形貌，為材料表面結構分析提供依據。2.分析元素成分分布：能夠進行能譜分析，可以分析樣品表面元素成分分布，并生...

臺式掃描電鏡可用于測量亞微米或納米尺度的樣品；從試表面形貌獲得多方面資料，在掃描電鏡中，不僅可以利用入射電子和試樣相互作用產生各種信息來成象，而且可以通過信號處理方法，獲得多種圖象的特殊顯示方法，還可以從試樣的表面形貌獲得多方面資料。因為掃描電子象不是同時記錄的，它是分解為近百萬個逐次依此記錄構成的。因而使得高分辨率臺式掃描電鏡除了觀察表面形貌外還能進行成分和元素的分析，以及通過電子通道花樣進行結晶學分析，選區尺寸可以從10μm到3μm。易于管理，即使是沒有或著僅具有實驗室基...

X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣，本質上都屬于電磁波，只是彼此之間占據不同的波長范圍而已。X射線的波長較短，大約在10-8～10-10cm之間。X射線分析儀器上通常使用的X射線源是X射線管，這是一種裝有陰陽極的真空封閉管，在管子兩極間加上高電壓，陰極就會發射出高速電子流撞擊金屬陽極靶，從而產生X射線。X射線衍射儀XRD是利用X射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。每一種結晶物質，都有其特定的晶體結構，包括點陣類型、晶面間距等參數，用具有足夠能量的X射線照射試...

臺式掃描電鏡(DesktopScanningElectronMicroscope,DesktopSEM)相較于傳統大型SEM，臺式掃描電鏡具有體積小巧、操作簡便、價格便宜、快速抽真空、不用噴金測量不導電樣品等優勢，而且它的放大倍數可高達130,000倍。此類新型儀器的出現填補了光學顯微鏡與傳統大型掃描電子顯微鏡之間的空白區域，可廣泛應用于材料科學、納米顆粒、生物醫學、食品藥品、紡織纖維、地質科學等諸多領域。臺式掃描電鏡的工作原理和優點：成像系統和電子束系統均內置在真空柱中，真...

低溫環境XRD的分析中，定量分析軸承和內燃機噴射器部件中的殘余奧氏體；檢測輸片惰性輪中的殘余應力；檢測汽車發動機部件的殘余應力(凸輪軸、連桿、發動機軸、均衡器)；檢測由于全同火引起的殘余應力(家用電器、結構部件)；檢測氣體傳導時所存在的工作壓力；檢測大幅度拉伸結構件中的工作應力；通過檢測應力來測量工件噴丸和軋制的效率；檢測鑄件的殘余應力(機械工具鑄鐵件和汽車鑄鋁部件)；檢測焊接引起的應力(激光和電焊)；研亢鋁合金汽車輪廓中的殘余應力和應力阻抗的笑系：優化切削去除的工作參數以提...

日本電子電鏡是一個復雜的系統，濃縮了電子光學技術、真空技術、精細機械結構以及現代計算機控制技術。成像是采用二次電子或背散射電子等工作方式，隨著掃描電鏡的發展和應用的拓展，相繼發展了宏觀斷口學和顯微斷口學。是在加速高壓作用下將電子槍發射的電子經過多級電磁透鏡匯集成細小(直徑一般為1~5nm)的電子束(相應束流為101-1012A)。在末級透鏡上方掃描線圈的作用下，使電子束在試樣表面做光柵掃描(行掃+幀掃)。入射電子與試樣相互作用會產生二次電子、背散射電子、X射線等各種信息。這些...

高溫環境XRD是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時，該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象，物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優點。高溫環境XRD的原理：x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這...